介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置：

2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（

±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

擊穿電壓試驗(yàn)儀/介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀/耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀/絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)/介電擊穿電壓儀

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB1408-2006 GB/T1695-2005 GB/T3333  HG/T3330 /GB12656 /ASTM D149 .等標(biāo)準(zhǔn)

1、本儀器在試驗(yàn)過(guò)程中可對(duì)升壓擊穿過(guò)程繪制實(shí)時(shí)曲線，每次試驗(yàn)的升壓曲線都由不同顏色構(gòu)成，

  試驗(yàn)結(jié)束后可疊加對(duì)比材料的試驗(yàn)數(shù)據(jù)重復(fù)性。

2、可以隨時(shí)調(diào)取當(dāng)前及歷史試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行查看，編輯及修改實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

3、試驗(yàn)過(guò)程中可以隨時(shí)修改試驗(yàn)條件及存儲(chǔ)路徑及自動(dòng)存儲(chǔ)試驗(yàn)結(jié)果。

4、試驗(yàn)過(guò)程中，可隨時(shí)通過(guò)軟件決定本次試驗(yàn)是否有效，方便篩選試驗(yàn)結(jié)果。

5、可對(duì)軟件設(shè)置密碼，生成密碼保護(hù)，做到專機(jī)專人操作，避免無(wú)關(guān)人員誤操作。

6、 可對(duì)試驗(yàn)結(jié)果編輯修改后打印，方便操作 更加人性化。

7、可對(duì)一組試驗(yàn)中曲線數(shù)據(jù)的試驗(yàn)結(jié)果是否進(jìn)行人為選定 。

8、本儀器采用*無(wú)觸點(diǎn)原件勻速調(diào)壓方式，淘汰同類產(chǎn)品中機(jī)械傳動(dòng)升壓方式。

主要適用于固體絕緣材料，同時(shí)可測(cè)得 液體、粉體和不規(guī)則物體的擊穿強(qiáng)度。自動(dòng)整形 測(cè)試精度與固體一樣。

同時(shí)測(cè)得工頻交流電壓與直流電壓的擊穿強(qiáng)度和耐壓強(qiáng)度的測(cè)試 可設(shè)定梯度耐壓的試驗(yàn) 使梯度時(shí)間自由調(diào)整。

本儀器由pc控制，通過(guò)我公司自主研發(fā)的全新智能數(shù)字精密嵌入式西門(mén)子中央單元cpu系統(tǒng)與上位機(jī)軟件控制兩部分來(lái)完成，

通過(guò)pc USB 串口獲得數(shù)據(jù)傳送數(shù)據(jù)zui高可高達(dá) 3M/S是RS232串口*的 讓上位機(jī)與下位機(jī)通訊無(wú)延遲使升壓速率真正做到勻速、準(zhǔn)確，并能夠準(zhǔn)確測(cè)出漏電電流的數(shù)據(jù)，電流實(shí)時(shí)采集。

可實(shí)時(shí)繪制試驗(yàn)曲線，顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù)，判斷準(zhǔn)確，并可保存，分析，打印，修改試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

并且提取試驗(yàn)數(shù)據(jù)分色對(duì)比。人性化明顯

試驗(yàn)軟件簡(jiǎn)介：

此設(shè)備軟件外觀由專業(yè)的美工設(shè)計(jì)：

人員管理：可添加多人同時(shí)使用此軟件 不同人員設(shè)定不同密碼 交叉使用互不干擾 （如一人使用可刪除設(shè)定密碼  直接進(jìn)入軟件）

參數(shù)管理：

高壓保護(hù)可選、

耐壓時(shí)間可選、

梯度步進(jìn)可選 、

漏電流和過(guò)壓可選、

靈敏的漏電壓可選、

漏電流可選 、

升壓速度可自由設(shè)定（0-50kv 無(wú)極自由）

試驗(yàn)結(jié)果可選

異地操作選定 、

人機(jī)分離選定等等

結(jié)果調(diào)?。?/span>

試驗(yàn)結(jié)果保存調(diào)取 、

人員選定調(diào)取、

試驗(yàn)結(jié)果可根據(jù)客戶要求操作整理 、

支持5次以上彩線對(duì)比、

自動(dòng)整取添加試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

設(shè)備安全說(shuō)明：

1、設(shè)備要安裝單獨(dú)的保護(hù)地線。

接保護(hù)地線，主要是減少試樣擊穿時(shí)對(duì)周圍產(chǎn)生的較強(qiáng)的電磁干擾。也可避免控制計(jì)算機(jī)失控。

2、該試驗(yàn)設(shè)備的電路設(shè)有多項(xiàng)保護(hù)措施，

主要有：過(guò)流保護(hù)、失壓保護(hù)、漏電保護(hù)、短路保護(hù)、直流試驗(yàn)放電報(bào)警等。

3、接地要求： 儀器需要單獨(dú)接地，接地附合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求，金屬棒深埋地下至少要1.5米以下。

4、該試驗(yàn)設(shè)備的電路設(shè)有多項(xiàng)保護(hù)措施，

主要有：過(guò)流保護(hù)、失壓保護(hù)、漏電保護(hù)、短路保護(hù)、直流試驗(yàn)放電報(bào)警等。

電壓擊穿試驗(yàn)儀技術(shù)指標(biāo)：

01、輸入電壓： 交流 220 V

02、輸出電壓： 交流 0--50 KV ;直流 0—50 KV

03、電器容量： 10KVA

04、高壓分級(jí)： 0-100KV，

05、升壓速率：0.1-5.0kv（自由填寫(xiě)）

        （備注：滿足標(biāo)準(zhǔn)要求并可以根據(jù)用戶需求設(shè)定不同的升壓速率）

06、試驗(yàn)方式：

           直流試驗(yàn)：1、勻速升壓  2、梯度升壓 3、耐壓試驗(yàn)

           交流試驗(yàn)：1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗(yàn)

07、試驗(yàn)介質(zhì)：空氣，試驗(yàn)油

08、安裝靈敏度較高的過(guò)電流保護(hù)裝置保證試樣擊穿時(shí)在0.05S內(nèi)切斷電源。

09、儀器配備*故障報(bào)警系統(tǒng) 避免用戶操作故障儀器發(fā)生危險(xiǎn)。（上位機(jī)報(bào)警和下位機(jī)報(bào)警）

10、支持短時(shí)間內(nèi)短路試驗(yàn)要求。

11、電壓試驗(yàn)精度： ≤ 1％。

12、試驗(yàn)電壓連續(xù)可調(diào)： 0--100 KV。

13、電流可采集到mA級(jí) 并且實(shí)現(xiàn) 實(shí)時(shí)采集。

14、出具*計(jì)量單位校準(zhǔn)證書(shū)或出具客戶計(jì)量單位的證書(shū)

15、電源：220v±10%的單相交流電壓和50Hz±1%的頻率

16、電流電壓穩(wěn)定度：外界電壓波動(dòng)10% （可選配我司配到電壓保護(hù)器 額定波動(dòng)電壓30%）

17、升壓裝置：采用*無(wú)觸點(diǎn)原件勻速升壓淘汰前款機(jī)械調(diào)壓

18、耐壓時(shí)間：0-6H保持相對(duì)電壓 （軟件設(shè)定）

19、擊穿試樣：試樣擊穿點(diǎn) 大小可調(diào)一般為1-5mm左右

20、帶有方便拆裝的油浴槽（可根據(jù)客戶需要，也可不要油浴槽）

21、機(jī)箱材質(zhì)：SUS304 不銹鋼

22、支持人機(jī)分離異地操作 。

23、控制方式：可選 PC /EPC

24、通訊方式：采用全國(guó)zui技術(shù)無(wú)線藍(lán)牙控制，支持 232/USB/亞太區(qū)域網(wǎng)絡(luò)端口。

交直流試驗(yàn)的切換

1）本儀器高壓輸出為交流電壓。直流的獲得方式為在原回路中串入高壓硅堆，使測(cè)試回路為脈動(dòng)的直流電壓。實(shí)現(xiàn)的過(guò)程為，硅堆已經(jīng)在高壓變壓器的高壓絕緣塔中，平時(shí)用一個(gè)短路桿把高壓硅堆短接。需要直流試驗(yàn)時(shí)，取出短路桿，使高壓硅堆接入測(cè)試電路中，這時(shí)回路的電壓為脈動(dòng)的直流電壓。

2）前面板直流交流選擇按鈕。該按鈕的狀態(tài)不能改變?cè)O(shè)備輸出的電壓性質(zhì)。按下該按鈕，設(shè)備僅僅是把直流報(bào)警電路接入。指示用戶，當(dāng)打開(kāi)箱門(mén)時(shí)，您需要對(duì)高壓均壓球放電。轉(zhuǎn)動(dòng)放電桿，使放電桿的端部銅球接觸高壓均壓球。建議用戶每次放電銅球接觸高壓均壓球時(shí)間大于五秒。

3）試驗(yàn)的交直流電壓切換，主要取決于高壓絕緣塔中的短路桿是否取出。當(dāng)取出短路桿時(shí)，高壓均壓球上的電壓為直流電壓，插入短路桿時(shí)，高壓均壓球上的電壓為交流電壓。短路桿的取出、插入?yún)⒖醋髠?cè)的示意圖。

4）在直流試驗(yàn)時(shí)，計(jì)算機(jī)也要選擇直流狀態(tài)，否則測(cè)的結(jié)果是不正確的。簡(jiǎn)單的說(shuō)，交流電壓與直流電壓有倍的關(guān)系。

常規(guī)型號(hào)為：
                  
 
                  BDJC-10KV 
                  BDJC-20KV 
                  BDJC-30KV 
                  BDJC-50KV 
                  BDJC-100KV

                  BDJC-150KV

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀電感器：

按測(cè)試頻率要求，需要配置不同量的電感器。

例如：在1MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配250μH電感器，在50MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配0.1μH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品（選購(gòu)件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購(gòu)，以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀特點(diǎn)： 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù)，使測(cè)Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測(cè)試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào)   源輸出口，所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。

◎ 測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作頻率范圍是10kHz～120MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器和測(cè)微圓筒線性電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。

絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。

同樣，由測(cè)微圓筒線性電容器的電容量讀數(shù)變化，通過(guò)公式計(jì)算得到介電常數(shù)。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。

2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數(shù)顯，壓控振蕩器

Q值測(cè)量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測(cè)量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

電壓擊穿試驗(yàn)儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

體積表面電阻率測(cè)試儀

介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

TOC總有機(jī)碳分析儀

過(guò)濾器完整性測(cè)試儀

體積電阻率測(cè)試儀